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数据通信VCSEL晶圆测试

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PSS WT-8502

公海赌赌船官网jcjc5500光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

850nm VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱相关参数的测试

PSS WT-8502

激光雷达VCSEL晶圆测试

激光雷达VCSEL晶圆测试

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PSS WT-VL602

公海赌赌船官网jcjc5500高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

激光雷达类VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试

PSS WT-VL602

COC抽屉式老化系统

COC抽屉式老化系统

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PSS LRS13841

公海赌赌船官网jcjc5500 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯。

单路电流≤500mA;电压≤5V;支持40个控温单元,最大可同时3840PCS COC 的老化

PSS LRS13841

LD集成式老化系统

LD集成式老化系统

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PSS LDBI13003

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，最多支持3072PCS的单次老化

PSS LDBI13003

EML集成式老化系统

EML集成式老化系统

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PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

公海赌赌船官网jcjc5500EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

LD驱动电流≤250mA，SOA驱动电流≤250mA，PD反偏电压≤5V，LD正向电压≤5V，EA电压0~-5V，最多支持1536PCS单次老化

PSS EMLBI11536/PSS EMLBI21536

APD台式老化监控电源

APD台式老化监控电源

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PSS APDBI-IV

公海赌赌船官网jcjc5500APD台式老化监控电源(PSS APDBI-IV)用于老化APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件器件，提高器件的品质。该系统通过给APD提供恒流、PIN提供反偏压，TIA 提供恒压来达到对器件工作老化。同时配合独立客供老化箱可控制器件工作环境温度，达到高温下工作老化的功能。在老化过程中，对器件的TIA工作电流以及APD 电压进行实时监控测试，并对测试数据进行记录，可对老化失效器件进行追述，单台独立老化64颗APD器件。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持64pcs的单次老化，

PSS APDBI-IV

LD台式老化监控电源

LD台式老化监控电源

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PSS ATLD-VI

硬件支持小电流和大电流两个档位，完美兼容VECSEL和FP/DFB激光器 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率

LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，支持64PCS的单次老化

PSS ATLD-VI

EML台式老化监控电源

EML台式老化监控电源

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PSS ATEML-3201

公海赌赌船官网jcjc5500 EML 台式老化监控电源(PSS ATEML-3201)，用于 EML TO 器件的老化筛选以及可靠性寿命分析，筛选后有效提高 TO 产品的质量。单台系统可支持 32路器件的老化，通过对器件内部 TEC 进行高温控温，给 EML 器件提供恒定电流来 实现对 EML 器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司 EML TO 盘测系统。

LD驱动电流≤250mA，SOA驱动电流≤250mA，PD反偏电压≤5V，LD正向电压≤5V，EA电压0~-5V，最多支持32PCS单次老化

PSS ATEML-3201

RGB TO大功率抽屉式老化系统

RGB TO大功率抽屉式老化系统

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PSS LRS15122-W

公海赌赌船官网jcjc5500大功率TO抽屉式老化系统主要用于大功率激光器在一定温度条件下进行加电老化，老化抽屉可满足不同封装激光器（如TO9，TO56、COS等）的老化需求，一个老化系统最多可装载16个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

老化电流≤9A,电压≤7V ，支持512PCS RGB TO器件老化

PSS LRS15122-W

光模块集成式老化系统

光模块集成式老化系统

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PSS MBS32016

公海赌赌船官网jcjc5500光模块集成式老化系统（PSS MBS12016/22016/32016）用于光模块的老化筛选以及可靠性分析。该系统提供3~4V恒压以及最高120℃高温老化条件，同时对模块的工作电流、电压以及工作环境温度进行实时监控测试，并自动进行失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效模块进行追述，通过DDM记录模块电压、温度、偏置电流、发射功率、接收功率。

提供 3~4V 恒压以及最高 120℃高温老化条件,最多支持 2016 只模块/COB（XFP、SFP+、QSFP+、QSFP-DD、OSFP、CFP封装）的单次老化。

PSS MBS32016

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