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激光雷达TO测试机

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PSS PLST401

公海赌赌船官网jcjc5500窄脉冲TO测工装针对激光雷达高功率脉冲型封装器件的测试。体积小，集成度高。适合于研发等小批量测试验证环境。

用于激光雷达VCSEL TO窄脉冲测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试

PSS PLST401

可见光TO盘测机

可见光TO盘测机

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PSS PAT902-RGB

公海赌赌船官网jcjc5500可见光TO自动盘测机，能实现TO56自动LIV综合测试、光谱测试，支持TO56任意引脚封装测试，采用一块测试板测试64颗TO56，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。该系统和我司集成式老化箱配套形成一套完整的可见光TO可靠性实验解决方案、老化板可兼容分拣设备使用，提高工厂生产、测试效率。

用于可见光TO9的盘测，夹具与老化老化兼容，支持LIV、光谱等光电特性测试。

PSS PAT902-RGB

可见光TO自动上下料测试机

可见光TO自动上下料测试机

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PSS TTP3302 

TOCAN自动化测试系统主要应用于TO的LIV、光谱、发散角自动测试，支持任意引脚封装的TO56/TO9，设备支持TO自动上料、自动下料，可兼容客户使用的上下料载具，测试工作台支持温度控制，可实现TO在设定温度下测试；系统全自动运行，稳定高效，方便客户批量测试。 与大功率TO抽屉老化系统配套使用，是一套完整的大功率TO可靠性实验方案，TOCAN测试系统支持老化前后测试和对比，数据存储与分析。

用于可见光TO9或是TO56测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试，自动上下料。

PSS TTP3302 

单模光衰减器

单模光衰减器

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PSS DOA24041/14081

PSS DOA24041/14081是一款可程控的四/八通道单模数字光衰减器设备，具有低插入损耗，高衰减精度和重复性等特点；另外光进光出端集成有高精度光功率计，可实时检测输入输出光功率；通信接口除了RS232还可以支持LAN或GPIB接口。设备可用于400G/800G等高速光模块的4/8路并行测试，以及光纤通信、光纤CATV等领域的各种集成测试，满足客户不同应用需求。

4/8通道单模光衰减器

PSS DOA24041/14081

数据通信单工位Bar 条测试

数据通信单工位Bar 条测试

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PSS BAR-HT2101

公海赌赌船官网jcjc5500EML BAR条自动测试机用于LD巴条LIV曲线，光谱，背光自动测量,EA加电测试,SOA加电测试。全自动上下料，支持多种规格料盒上料，支持多种规格料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

数据通信类Bar单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS BAR-HT2101

数据通信双工位Bar 条测试

数据通信双工位Bar 条测试

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PSS BAR-HT2201

公海赌赌船官网jcjc5500双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试，可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料，非黏性料盒上料，Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台，温度可由用户自定：20~90℃。向用户开放测量数据，用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机，功能齐全，兼容性强。

数据通信类Bar双工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS BAR-HT2201

可见光 Bar 条测试

可见光 Bar 条测试

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PSS BART-HP

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

可见光类Bar单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS BART-HP

数据通信双工位Chip测试

数据通信双工位Chip测试

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PSS CHIP22406

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，通过蓝膜顶针剥离机构，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等机构，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

数据通信类Chip双工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS CHIP22406

可见光 Chip测试

可见光 Chip测试

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PSS CHIP12806-P

本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，通过蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。 此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等机构，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

可见光类Chip单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS CHIP12806-P

10ns Lidar芯片可靠性系统

10ns Lidar芯片可靠性系统

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PSS PLSReliability

公海赌赌船官网jcjc5500窄脉冲集成式可靠性系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试。每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤30V，脉冲宽度10ns,占空比≤0.02%；

PSS PLSReliability

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